Spektroskop rentgenowski XRF

Zakończone

1. Oferty należy składać osobiście, listownie na adres Zamawiającego lub na adres e-mail tj.:

Abraxas Olgierd Jeremiasz
ul. Piaskowa 27
44-300 Wodzisław Śląski
email: piotr.sobik@abraxas.com.pl

2. Termin składania ofert upływa 12.05.2017 r. o godz. 15.00 Oferty złożone po tym terminie oraz niekompletne nie będą rozpatrywane. W przypadku ofert wysłanych pocztą/kurierem decyduje data i godzina wpływu do siedziby Zamawiającego wskazanej w pkt. 1.
4. Zamawiający zastrzega sobie możliwość zmiany lub uzupełnienia treści albo wycofania zapytania ofertowego przed upływem terminu na składanie ofert.
5. Informacja o wprowadzeniu zmiany lub uzupełnieniu treści zapytania ofertowego zostanie przekazana Wykonawcom niezwłocznie w formie pisemnej (e-mail) oraz za pośrednictwem niniejszej Bazy Konkurencyjności.

piotr.sobik@abraxas.com.pl

Piotr Sobik

667150943

Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja i uruchomienie wraz ze szkoleniem urządzenia do nieniszczącego pomiaru grubości powłok srebrowych za pomocą spektroskopii rentgenowskiej XRF.

Dostawy

Dostawy inne

Województwo: śląskie Powiat: rybnicki Miejscowość: Czerwionka-Leszczyny

Zamówienie jest realizowane w zakresie projektu pt. „Materiały termoprzewodzące nowej generacji do zastosowań w elektronice” realizowanego w ramach programu INNOCHEM. Rządzenie zostaną zainstalowane i uruchomione w całości jako stanowisko pomiaru grubości powłok w miejscu realizacji projektu.

Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja i uruchomienie wraz ze szkoleniem urządzenia do nieniszczącego pomiaru grubości powłok srebrowych za pomocą spektroskopii rentgenowskiej XRF.

1. Wymagania ogólne
Dokumentacja techniczna i techniczno-ruchowa poszczególnych elementów składowych urządzenia do nieniszczącego pomiaru grubości powłok srebrowych na aluminium. Urządzenia elektryczne dostosowane do zasilania z sieci elektrycznej 230 lub 400 V. Dokumentacja i instrukcje w języku polskim.

2. Technologia pomiaru
Pomiar grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej zgodnie z ISO 3497 i ASTM B568. Detektor: licznik proporcjonalny. Lampa rentgenowska typu mikrofocus z min 4 automatycznie przełączanymi kolimatorami umożliwiającymi pomiar powierzchni od fi 0,2mm. Lampa rentgenowska chłodzona olejem pracująca na napięciach w zakresie 30 - 50kV.

3. Możliwości pomiarowe
Pomiar powłok pojedynczych, podwójnych i potrójnych, na różnych materiałach (metal, szkło, ceramika, tworzywa sztuczne). Zakres analizowanych pierwiastków: K(19) – U(92). Zakres pomiarowy dla powłoki srebrowej do 30 μm. Możliwość bezwzorcowego pomiaru grubości powłoki. Możliwość wykonywania pomiaru niezależnego od odległości głowicy pomiarowej od przedmiotu.

3. Komora pomiarowa
Zespół stolik-głowica umożliwiający przesuw próbki w osiach XYZ. Zespół stolik-głowica zmotoryzowany i programowalny.
Stolik pomiarowy umożliwiający zmianę miejsca pomiarowego bez konieczności otwierania komory o przesuwach nie mniej niż 250x230mm, wielkość użytkowa stolika nie mniejsza niż 300 x 300mm. Automatyczny przesuw głowicy lub stolika w osi pionowej o zakresie nie mniejszym niż 140mm. Powtarzalność ruchu stolika nie gorsza niż 0,01mm. Możliwość umieszczania próbek o masie do 20kg wewnątrz komory. Możliwość pomiaru grubości w punkcie na próbce przekraczającej rozmiar komory pomiarowej – na końcach próbki gdzie, maksymalne wymiary końcówki wynoszą 200 x 200 x 25mm.

4. Podgląd próbki
Podgląd obrazu miejsca pomiarowego poprzez kolorową kamerę CCD. Oś optyki kamery ma być zbieżna z kierunkiem padania wiązki promieni X. Wielkość plamki pomiarowej zaznaczonej na obrazie ma odzwierciadlać rzeczywisty jej rozmiar, a nie wielkość kolimatora. Oświetlenie strefy pomiarowej z możliwością regulacji natężenia oświetlenia. Urządzenie ma być wyposażone w laserowy znacznik do szybkiego oznaczenia miejsca pomiarowego. System ma posiadać opcję auto-fokus do automatycznego ustawienia odległości pomiarowej.

5. Urządzenia i akcesoria uzupełniające
5.1. Zewnętrznym komputerem klasy PC przeznaczony do obsługi urządzenia pomiarowego, monitor LCD o przekątnej min. 19”, klawiatura i myszka, drukarka kolorowa, system Windows 7 lub nowszy
5.2. Zestaw wzorców do kalibracji umożliwiające pomiar w zakresie 1-30um.

6. Oprogramowanie
6.1. Polska wersja językowa oprogramowania analityczno–sterującego pracująca pod system Windows
6.2. Możliwość bez-wzorcowych pomiarów grubości powłok, składów stopów oraz kąpieli galwanicznych na podstawie dostarczonej biblioteki. Pomiar grubości powłok pojedynczych, podwójnych i potrójnych. Analiza składu i grubości powłoki stopowej dwu- i trójskładnikowej. Analiza składu i pomiar grubości powłoki stopowej dwuskładnikowej wraz z powłoką podwarstwową lub układu odwrotnego. Analiza składu stopów do 4 składników stopowych.
6.3 Wyświetlenie obrazu przedmiotu badanego z możliwością jego powiększania z zaznaczeniem strefy pomiarowej
6.4 Opcja zachowania obrazu w formie pliku, jego wydruku na drukarce lub umieszczenia w raporcie. Export danych do innych systemów.

7. Wymagania dodatkowe
7.1. Gwarancja: min 12 miesięcy
7.2. Dostawa urządzenia wraz z wszystkimi podzespołami i akcesoriami, Instalacja urządzenia, Uruchomienie urządzenia po stronie dostawcy
7.3. Szkolenie personelu z obsługi urządzenia, przeprowadzania kalibracji i generowania raportów

38433210-4

Spektrometry emisyjne

Zamówienie zostanie złożone najpóźniej do 12.06.2017 w okresie ważności wszystkich zakwalifikowanych ofert.
Płatność finansowana będzie poprzez leasing.
Ostateczny termin realizacji zamówienia: 15 tygodni od daty podpisania umowy z leasingodawcą.

Brak załączników

Brak pytań i wyjaśnień

O udzielenie zamówienia może ubiegać się Oferent spełniający następujące warunki:
4.1 Deklaruje gotowość do wykonania przedmiotu zamówienia w terminie nie przekraczającym 15 tygodni od momentu podpisania umowy z leasingodawcą.
4.2 Deklaruje, że nie jest podmiotem powiązanym z Zamawiającym osobowo lub kapitałowo. Przez powiązania kapitałowe lub osobowe rozumie się wzajemne powiązania między Zamawiającym lub osobami upoważnionymi do zaciągania zobowiązań w imieniu Zamawiającego lub osobami wykonującymi w imieniu Zamawiającego czynności związane z przygotowaniem i przeprowadzeniem procedury wyboru Wykonawcy a Wykonawcą, polegające w szczególności na:
a) uczestniczeniu w spółce jako wspólnik spółki cywilnej lub spółki osobowej,
b) posiadaniu co najmniej 10% udziałów lub akcji,
c) pełnieniu funkcji członka organu nadzorczego lub zarządzającego, prokurenta, pełnomocnika,
d) pozostawaniu w związku małżeńskim, w stosunku pokrewieństwa lub powinowactwa w linii prostej, pokrewieństwa drugiego stopnia lub powinowactwa drugiego stopnia w linii bocznej lub w stosunku przysposobienia, opieki lub kurateli;
4.3 W przypadku niespełnienia przez Oferenta któregokolwiek z warunków opisanych w pkt 4.1 – 4.2 powyżej, Zamawiający może odrzucić ofertę z przyczyn formalnych. Wówczas oferta nie będzie oceniana z uwzględnieniem kryteriów wyboru najkorzystniejszej oferty.
4.4 W toku badania i oceny ofert Zamawiający może żądać od Oferentów wyjaśnień dotyczących treści złożonych ofert.

Wybór najkorzystniejszej oferty nastąpi w oparciu o następujące kryterium:
1. Cenę zakupu netto (w PLN) kompletnego stanowiska do pomiarów spektroskopowych – 100%
Zmawiający oceni i porówna tylko te oferty które spełniają Warunki udziału w postępowaniu opisane poniżej.

WARUNKI JAKIE MUSI SPEŁNIAĆ OFERTA
Oferta musi zawierać:
a) pełną nazwę oferenta,
b) adres lub siedzibę oferenta, numer telefonu, NIP oraz aktualny odpis z KRS lub odpis Centralnej Ewidencji i Informacji o Działalności Gospodarczej (CEIDG)
c) informacje techniczne o oferowanym urządzeniu,
d) cenę
e) przewidywany termin dostawy: 15 tygodni od podpisania umowy z leasingodawcą
f) minimalny okres gwarancji licząc od daty podpisania protokołu odbioru końcowego jaki przysługuje Zamawiającemu – wymagany 12 miesiące,
g) termin ważności oferty (30 dni od daty przesłania oferty),
h) warunki płatności – płatność finansowana leasingiem, płatność po realizacji zamówienia
i) oferta musi być sporządzona i podpisana przez osobę lub osoby uprawnione do występowania w obrocie prawnym w imieniu oferenta.
j) oferta powinna być sporządzona w walucie PLN

SPOSÓB OCENY:
1. Zamawiający dokona oceny spełnienia warunków udziału w postępowaniu metodą spełnia/nie spełnia.
2. Dokumenty żądane przez Zamawiającego w celu potwierdzenia spełnienia warunków udziału w postępowaniu należy składać w formie kopii (skanu) poświadczonej za zgodność z oryginałem przez Oferenta
3. Zamawiający przed podpisaniem umowy zastrzega sobie prawo do weryfikacji oświadczeń Oferenta (spełnia/nie spełnia) dot. warunków udziału w postępowaniu na podstawie właściwych dokumentów potwierdzających oświadczenia Oferenta.

Rozpatrywane będą oferty na dostarczenie urządzenia przedstawionego w pkt. PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA.
Oferty niespełniające wymogów formalnych i oferty częściowe nie będą brane pod uwagę w postępowaniu.

Z udziału w postępowaniu wykluczone są podmioty powiązane osobowo i kapitałowo z Zamawiającym.

ABRAXAS JEREMIASZ OLGIERD

Piaskowa 27

44-300 Wodzisław Śląski

śląskie , wodzisławski

+48667157852

6511032642

Materiały termoprzewodzące nowej generacji do zastosowań w elektronice

POIR.01.02.00-00-0009/16-00

Rozstrzygnięte

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością sp. k.
ul. Poznańska 104,
Skórzewo
60-185 Poznań

Data wpłynięcia oferty: 09.05.2017
Cena: 173 000 zł netto